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日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差 PAM-PR300 對光學(xué)薄膜偏振軸方位、取向角及相位差值進(jìn)行測定 無需個人差異，可簡便且短時間內(nèi)測量

日本oji-keisoku相位差測量平行尼科耳旋轉(zhuǎn) KOBRA-WFD0系列 1.從超低相位差（2nm以下）到超高相位差（20000nm以下）的廣泛測量范圍2.高精度的測量特別是取向角的高精度化，實現(xiàn)長期穩(wěn)定的測量3.日常維護(hù)，減少消耗部件標(biāo)準(zhǔn)采用LED光源，無需更換光源燈4.與KOBRA-W系列共用樣品支架、可選夾具可共用5.考慮操作性與KOBRA-W系列相比較大的開口部

日本oji-keisoku相位差/橢球偏振測量裝置 KOBRA-HB系列 1.從超低相位差（2nm以下）到超高相位差（20000nm以下）的廣泛測量范圍2.高精度的測量特別是取向角的高精度化，實現(xiàn)長期穩(wěn)定的測量3.日常維護(hù)，減少消耗部件標(biāo)準(zhǔn)采用LED光源，無需更換光源燈4.與KOBRA-W系列共用樣品支架、可選夾具可共用5.考慮操作性與KOBRA-W系列相比較大的開口部

日本進(jìn)口osp-inc手持式VOC測量裝置多功能 這是一種方便快捷的測量裝置，可以輕松、快速地現(xiàn)場檢測石油基、氯基等VOCs的總濃度。 內(nèi)置泵可實現(xiàn)地表氣體測量和從鉆孔（10m深等）直接抽吸測量，使其成為簡單檢查和初步篩選的理想選擇。

日本mitaka非接觸式微透鏡陣列三坐標(biāo)測量機(jī) MA系列 配備了NH系列的所有基本形狀測量功能，可以測量透鏡和模具的橫截面形狀，并使用專用軟件一次性測量曲率和中心坐標(biāo)。

日本mitaka非接觸三維輪廓高精度測量裝置 MLP系列 MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標(biāo)測量機(jī)、投影儀和激光顯微鏡無法實現(xiàn)的復(fù)雜測量。點自動對焦探頭和每個軸的控制（包括旋轉(zhuǎn)）解決了困擾測量人員的問題。

日本mitaka非接觸三維測量裝置高精度耐磨損 NH系列 NH系列實現(xiàn)了高精度和易用性， 解決了過去的測量問題。 ?可在不損壞測量對象的情況下進(jìn)行測量 ?擅長測量陡峭的斜坡和大的凹凸不平 ?直接測量鏡面和透鏡等透明物體

日本mitaka非接觸式表面粗糙度快速測量裝置 PF系列 通過使用可實現(xiàn)指數(shù)測量速度提高 50 倍的掃描 AF 功能和高精度自動 XY 工作臺，我們實現(xiàn)了數(shù)十毫米大范圍內(nèi)的高速測量，測量精度達(dá)到亞微米級。 非常適合測量無法使用截面曲線檢測到的精密加工零件的翹曲、成型產(chǎn)品的缺陷形狀以及摩擦學(xué)中磨損和劃痕的定量評估。