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日本oji-keisoku超高相位差雙折射測量裝置 PAM-UHR100 本裝置以透明試樣為對象，通過平行尼可光譜法測定數(shù)千至2萬nm左右的相位差及取向角。通過輸入薄膜厚度，自動計算雙折射N。