
PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
nisshooptical鹵素光源目視檢查測量儀日本 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置,結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動(dòng)對焦)跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動(dòng)對焦驅(qū)動(dòng)可實(shí)現(xiàn)快速、易于使用的測量,并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺(tái)階形狀的同時(shí)進(jìn)行測量,因此可以實(shí)時(shí)識別測量屏幕上的高度,從而輕松確定需要測量的區(qū)域。
2025-05-07
經(jīng)銷商
542
日本nisshooptical半導(dǎo)體激光器測量裝置 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置,結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動(dòng)對焦)跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動(dòng)對焦驅(qū)動(dòng)可實(shí)現(xiàn)快速、易于使用的測量,并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺(tái)階形狀的同時(shí)進(jìn)行測量,因此可以實(shí)時(shí)識別測量屏幕上的高度,從而輕松確定需要測量的區(qū)域。
2025-05-07
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日商精光nisshooptical光學(xué)系統(tǒng)測量深高度 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置,結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動(dòng)對焦)跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動(dòng)對焦驅(qū)動(dòng)可實(shí)現(xiàn)快速、易于使用的測量,并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺(tái)階形狀的同時(shí)進(jìn)行測量,因此可以實(shí)時(shí)識別測量屏幕上的高度,從而輕松確定需要測量的區(qū)域。
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日本meidensha電化學(xué)測量裝置帶液晶監(jiān)視器 HZ-7000系列 HZ-7000 配置了液晶監(jiān)視器, 是具備存儲(chǔ)功能的小型, 高性能恒電位 / 恒電流測試儀。 以循環(huán)伏安法為中心, 可進(jìn)行各種電化學(xué)測量。
2025-05-07
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日本meidensha帶存儲(chǔ)功能電化學(xué)測量裝置 HZ-7000系列 HZ-7000 配置了液晶監(jiān)視器, 是具備存儲(chǔ)功能的小型, 高性能恒電位 / 恒電流測試儀。 以循環(huán)伏安法為中心, 可進(jìn)行各種電化學(xué)測量。
2025-05-07
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日本nisshooptical深度高度測量機(jī)鹵素光源 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置,結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動(dòng)對焦)跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動(dòng)對焦驅(qū)動(dòng)可實(shí)現(xiàn)快速、易于使用的測量,并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺(tái)階形狀的同時(shí)進(jìn)行測量,因此可以實(shí)時(shí)識別測量屏幕上的高度,從而輕松確定需要測量的區(qū)域。
2025-05-07
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日本nisshooptical微米深度高度測量裝置 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置,結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動(dòng)對焦)跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動(dòng)對焦驅(qū)動(dòng)可實(shí)現(xiàn)快速、易于使用的測量,并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺(tái)階形狀的同時(shí)進(jìn)行測量,因此可以實(shí)時(shí)識別測量屏幕上的高度,從而輕松確定需要測量的區(qū)域。
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日本maedauni高檔噴漆用精密測量設(shè)備潔凈室 JA-13-T/JAC-13-T 適用于需要清潔空氣的工作,如半導(dǎo)體、精密儀器、食品、高級涂料、醫(yī)療設(shè)備等。
2025-05-07
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558
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